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ASTM E1127-24
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
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NORM herausgegeben am 1.10.2024
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM E1127-24
Ausgabedatum normen: 1.10.2024
SKU: NS-1202540
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM E1127-24 :
Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,
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