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Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer (Includes all amendments And changes 5/28/2018).
Automatische name übersetzung:
Standard Test Method for Dehnungs Gradient Messungen der Dünne, Reflektierende Folien mit einem optischen Interferometer
NORM herausgegeben am 1.11.2011
Bezeichnung normen: ASTM E2246-11e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
SKU: NS-44787
Zahl der Seiten: 21
Gewicht ca.: 63 g (0.14 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, round robin, stiction, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)
Significance and Use | ||||||||||
Strain gradient values are an aid in the design and fabrication of MEMS devices. |
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1. Scope | ||||||||||
1.1 This test method covers a procedure for measuring the strain gradient in thin, reflecting films. It applies only to films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials, which can be imaged using an optical interferometer, also called an interferometric microscope. Measurements from cantilevers that are touching the underlying layer are not accepted. 1.2 This test method uses a non-contact optical interferometric microscope with the capability of obtaining topographical 3-D data sets. It is performed in the laboratory. 1.3 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
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2. Referenced Documents | ||||||||||
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Historisch
1.6.2014
Historisch
1.11.2011
Historisch
1.11.2011
Historisch
1.10.2012
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-27 (Zahl der Positionen: 2 350 600)
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