ASTM E2530-06

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)

Automatische name übersetzung:

Standard Praxis zur Kalibrierung der Z- Vergrößerung von einem Atomkraftmikroskop bei Subnanometer Displacement Levels mit Si (111) monoatomaren Stufen (Withdrawn 2015)



NORM herausgegeben am 1.11.2006


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis79.70 ohne MWS
79.70

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E2530-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2006
SKU: NS-45532
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E2530-06 :

Keywords:

atomic force microscope, atomic steps, AFM, calibration, measurement, silicon, z-magnification, ICS Number Code 19.020 (Test conditions and procedures in general), 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

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