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ASTM E673-03
Standard Terminology Relating to Surface Analysis (Withdrawn 2012)
Automatische name übersetzung:
Standard-Terminologie In Bezug auf Analyse Oberfläche ( Withdrawn 2012)
NORM herausgegeben am 1.12.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM E673-03
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
SKU: NS-47610
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM E673-03 :
Keywords:
terminology, surface analysis, ICS Number Code 01.040.17 (Metrology and measurement. Physical phenomena (Vocabularies)), 17.040.20 (Properties of surfaces)
Ergänzende Informationen
| 1. Scope |
|
1.1 This terminology is related to the various disciplines involved in surface analysis. 1.2 The definitions listed apply to (a) Auger electron spectroscopy (AES), (b) X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), (c) ion-scattering spectroscopy (ISS), (d) secondary ion mass spectrometry (SIMS), and (e) energetic ion analysis (EIA). |
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