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Guide for Measuring Time-Dependant Total-Dose Effects in Semiconductor Devices Exposed to Pulsed Ionizing Radiation (Withdrawn 1994)
Automatische name übersetzung:
Leitfaden zur Messung der Zeit - Dependant Gesamt -Dose Effekte in Halbleiterbauelementen zu Pulsed ionisierender Strahlung ausgesetzt (Withdrawn 1994)
Bezeichnung normen: ASTM F1032-91
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-48877
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-21 (Zahl der Positionen: 2 216 840)
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