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Test Method for Resistivity of Silicon Epitaxial Layers by the Three-Probe Voltage Breakdown Method (Withdrawn 1993)
Automatische name übersetzung:
Testverfahren für die Widerstandsfähigkeit von Silikon-Epitaxial- Layers von der Drei -Probe Spannung Überschlags Method (Withdrawn 1993)
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | AUF LAGER |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: ASTM F108-88
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-49051
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.040.01 (Resistors in general)
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Letzte Aktualisierung: 2024-10-18 (Zahl der Positionen: 2 205 605)
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