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ASTM F1191-88
Guide for the Radiation Testing of Semiconductor Memories (Withdrawn 1993)
Automatische name übersetzung:
Leitfaden für die Strahlen Prüfung von Halbleiterspeichern (Withdrawn 1993)
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F1191-88
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-49447
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM F1191-88 :
Keywords:
ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
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