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Standard Test Method for Measuring Oxygen Concentration in Heavily Doped Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)
Automatische name übersetzung:
Standard -Testverfahren für die Messung der Sauerstoffkonzentration in stark dotierten Siliziumsubstraten mittels Sekundärionen- Massenspektrometrie ( Zurückgezogen 2003)
NORM herausgegeben am 1.1.1992
Bezeichnung normen: ASTM F1366-92(2002)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1992
SKU: NS-50053
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
FTIR, oxygen, secondary ion mass spectometry, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
1. Scope |
1.1 This test method covers the determination of total oxygen concentration in the bulk of single crystal silicon substrates using secondary ion mass spectrometry (SIMS). 1.2 This test method can be used for silicon in which the dopant concentrations are less than 0.2% (1 X 10 20 atoms/ cm ) for boron, antimony, arsenic, and phosphorus. This test method is especially applicable for silicon that has resistivity between 0.0012 and 1.0 [omega]-cm for -type silicon and between 0.008 and 0.2 [omega]-cm for -type silicon. 1.3 This test method can be used for silicon in which the oxygen content is greater than the SIMS instrumental oxygen background as measured in a float zone silicon sample, but the test method has a useful precision especially when the oxygen content is much greater (approximately 10X to 20X) than the measured oxygen background in the float zone silicon. 1.4 This test method is complementary to infrared absorption spectroscopy that can be used for the measurement of interstitial oxygen in silicon that has resistivity greater than 1.0 [omega]-cm for -type silicon and greater than 0.1 [omega]-cm for -type silicon (see Test Method F1188). The infrared absorption measurement can be extended to between 0.02 and 0.1 [omega]-cm for -type silicon with minor changes in the measurement procedure. 1.5 In principle, different sample surfaces can be used, but the precision estimate was taken from data on chemical-mechanical polished surfaces. 1.6 This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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