ASTM F2358-04

Standard Guide for Measuring Characteristics of Sapphire Substrates

Automatische name übersetzung:

Standard-Leitfaden zur Messung von Eigenschaften von Saphir-Substraten



NORM herausgegeben am 1.5.2004


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis67.30 ohne MWS
67.30

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F2358-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2004
SKU: NS-53668
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F2358-04 :

Keywords:
backside processing, compound semiconductors, flatness, form, front-to-front deviation (FFD), measurement, restrained, sag, sapphire, sapphire substrates, sori, taper, total thickness variation (TTV), unrestrained, ICS Number Code 25.100.70 (Abrasives)

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