ASTM F391-02

Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage (Withdrawn 2003)

Automatische name übersetzung:

Standard-Prüfverfahren für Minoritätsträger-Diffusionslängein Extrinsische Halbleiter durch Messung der Stationäre Oberflächenphotospannung(Withdrawn 2003)



NORM herausgegeben am 10.12.2002


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis79.90 ohne MWS
79.90

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F391-02
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.2002
SKU: NS-55133
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F391-02 :

Keywords:

diffusion length, minority carriers, polysilicon, silicon, single crystal silicon, surface photovoltag, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

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