ASTM F523-93(1997)

Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces

Automatische name übersetzung:

Standard Praxis für Unaided Sichtprüfung von polierten Siliciumwaferoberflächen



NORM herausgegeben am 10.12.1997


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis77.00 ohne MWS
77.00

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F523-93(1997)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1997
SKU: NS-55615
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F523-93(1997) :

Keywords:

Polished silicon wafers/slices, Visual examination-electronic components/devices, wafers (silicon)-polished, unaided visual inspection, practice,, Silicon semiconductors-slices/wafers, slices (polished)-unaided visual inspection, practice, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

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