ASTM F77-69(1996)

Test Method for Apparent Density of Ceramics for Electron Device and Semiconductor Application (Withdrawn 2001)

Automatische name übersetzung:

Testverfahren für die scheinbare Dichte von Keramik für den Electron Device und Halbleiterindustrie (Withdrawn 2001)



NORM herausgegeben am 1.1.1996


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis70.10 ohne MWS
70.10

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F77-69(1996)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1996
SKU: NS-56390
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F77-69(1996) :

Keywords:

Ceramic materials-electrical/electronic devices, Density-electronic applications, Electronic materials/applications-ceramics, apparent density of ceramics (for electron device/semiconductor, application), ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials), 81.060.20 (Ceramic products)

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