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Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
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NORM herausgegeben am 1.1.2024
Bezeichnung normen: ASTM F980-16(2024)
Ausgabedatum normen: 1.1.2024
SKU: NS-1162724
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
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Letzte Aktualisierung: 2024-07-02 (Zahl der Positionen: 2 330 370)
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