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ASTM P224
Test Method for Determining the Net Carrier Density on Bulk and Epitaxial Silicon Wafers by Using a Mercury Probe (Withdrawn 1992)
Automatische name übersetzung:
Test Methode zur Bestimmung der Nettoladungsträgerdichtezu Schütt und epitaktischen Silizium- Wafers durch Verwenden einer Merkur-Sonde (Withdrawn 1992)
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM P224
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-58000
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
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