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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination.
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NORM herausgegeben am 17.9.2002
Bezeichnung normen: BS EN 60749-3:2002
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 17.9.2002
SKU: NS-963297
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-27 (Zahl der Positionen: 2 350 600)
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