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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Beharrungstemperatur Luftfeuchtigkeit Bias-Lebensdauertest
NORM herausgegeben am 18.6.2003
Bezeichnung normen: BS EN 60749-5:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 18.6.2003
SKU: NS-95966
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-27 (Zahl der Positionen: 2 350 600)
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