ČSN 356575 (356575)

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

Automatische name übersetzung:

Röntgenenergie-Spektrometer mit Halbleiterdetektoren. Testmethoden.



NORM herausgegeben am 29.3.1991


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
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22.40

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN 356575
Zeichen: 356575
Katalog-Nummer: 33121
Ausgabedatum normen: 29.3.1991
SKU: NS-124756
Zahl der Seiten: 68
Gewicht ca.: 204 g (0.45 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

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Radiation measurements

Die Annotation des Normtextes ČSN 356575 (356575):

překladem IEC 759. Do normy jsou doplněna v čl. 2 a 3 doplňující ustanovení označená "čs. doplněk". Norma stanoví metody zkoušení pro spektrometry energií záření X s polovodičovými detektory. Tyto systémy sestávají z polovodičového detektoru a z elektronické části pro zpracování signálu, připojené k amplitudovému analyzátoru/čítači. Metody zkoušení pro amplitudové analyzátory čítače nejsou v této normě zahrnuty. V poměrně rozsáhlé normě je rozsáhlá i názvoslovná část (str. 2 až 12) a používané symboly (str. 12 až 15). Dále jsou normalizovány obecné a společné údaje v části "úvod" a "všeobecně". Konečně jsou normalizovány vlastní požadavky na detektory a na měření (linearita výšky impulsu, vlivy četnostní závislosti, vlivy přetížení, detekční účinnost a další). ČSN 35 6575 byla schválena 14.3.1991 a nabyla účinnosti od 1.2.1992

Zugehörige Änderungen zu dieser Norm:

ČSN 356575:1991/1 (356575) Änderung

Spektrometry energií záření X s polovodičovými detektory. Metody zkoušení.

Änderung herausgegeben am 1.4.1997

Ausgewählte Ausführung:
Tschechisch -
Gedruckt (1.10 EUR)


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