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Thickness measurement of coatings and characterization of surfaces with surface waves - Part 2: Guide to the thickness measurement of coatings by photothermic method
Automatische name übersetzung:
Schichtdickenmessung und Eigenschaften von Oberflächen mit Oberflächenwellen - Teil 2: Leitfaden zur Messung von Schichtdicke fototermické Verfahren.
NORM herausgegeben am 1.12.2006
Bezeichnung normen: ČSN EN 15042-2
Zeichen: 038194
Katalog-Nummer: 77376
Ausgabedatum normen: 1.12.2006
SKU: NS-146329
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Norma popisuje metody měření tloušťky povlaků pomocí tepelných vln vytvářených zdrojem záření. Metodu lze použít u povlaků, jejichž tepelné vlastnosti (např. měrná tepelná vodivost) se liší od vlastností podkladů, a to v rozsahu tlouštěk od několika mikrometrů do stovek mikrometrů.
Norma definuje používané termíny, popisuje principy měření, způsoby buzení a detekce a použití na měření tloušťky vrstev.
UNGÜLTIG
1.12.2013
1.2.1999
UNGÜLTIG
1.2.1999
UNGÜLTIG
1.9.2001
UNGÜLTIG
1.2.1999
UNGÜLTIG
1.3.1999
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-26 (Zahl der Positionen: 2 217 217)
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