Die Norm ČSN EN 60749-1 1.12.2003 Ansicht

ČSN EN 60749-1 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeine Anforderungen. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).



NORM herausgegeben am 1.12.2003


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis13.30 ohne MWS
13.30

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 68967
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
SKU: NS-158193
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-1 (358799):

Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody) a zavádí ustanovení společná pro všechny další části řady.

V případě rozporu mezi touto normou a příslušnou dílčí specifikací, platí ta později vydaná.

Empfehlungen:

EEviZak – alle Gesetze einschließlich ihrer Evidenz in einer Stelle

Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
Aktualisierung 2x pro Monat!

Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.




Cookies Cookies

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.

Sie können die Zustimmung verweigern hier.

Hier können Sie Ihre Cookie-Einstellungen nach Ihren Wünschen anpassen.

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können.