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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeine Anforderungen. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.12.2003
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 68967
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
SKU: NS-158193
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody) a zavádí ustanovení společná pro všechny další části řady.
V případě rozporu mezi touto normou a příslušnou dílčí specifikací, platí ta později vydaná.
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Letzte Aktualisierung: 2024-11-22 (Zahl der Positionen: 2 206 568)
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