Änderung ČSN EN 60749-19:2003/A1 1.5.2011 Ansicht

ČSN EN 60749-19:2003/A1 (358799)

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Widerstandsfähigkeit des Chips geschnitten. ( In Englisch, ist der Text Teil einer Kopie ).



NORM herausgegeben am 1.5.2011


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis7.40 ohne MWS
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-19:2003/A1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 88188
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.5.2011
SKU: NS-158209
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:

ČSN EN 60749-19 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Die Norm herausgegeben am 1.12.2003

Ausgewählte Ausführung:
Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (8.80 EUR)


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