ČSN EN 60749-25 (358799)

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-25 (358799):

Tato část IEC 60749 stanovuje zkušební postup k určování způsobilosti polovodičových součástek a součástí a/nebo montážních desek vydržet mechanické namáhání způsobené střídáním vysokých a nízkých teplotních extrémů. Trvalé změny elektrických a/nebo fyzikálních parametrů mohou být důsledkem těchto mechanických namáhání.

Tato zkušební metoda je obecně v souladu s IEC 60068-2-14, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy. Tato zkušební metoda platí pro jedno, dvou a tříkomorové teplotní cykly a zahrnuje zkoušení součástí a pájecích spojů. Při jednokomorovém cyklu je dávka umístěna ve stabilní komoře a je zahřívána nebo ochlazována přiváděním horkého, okolního nebo studeného vzduchu do komory. Při dvoukomorovém cyklu je dávka umístěna na pohyblivé desce samovolně se pohybující mezi stabilními komorami, které jsou udržovány na stálých teplotách. Při tříkomorovém teplotním cyklu se dávka pohybuje mezi třemi komorami.