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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29 : Test der Schließung. ( In Englisch, ist der Text Teil einer Kopie ). (Gültig bis 2014.05.12 ).
NORM herausgegeben am 1.9.2004
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-29
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 71195
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2004
SKU: NS-158229
Zahl der Seiten: 48
Gewicht ca.: 144 g (0.32 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Letzte Aktualisierung: 2024-07-26 (Zahl der Positionen: 2 339 085)
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