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ČSN EN 60749-3 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examinationt
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung. (Text-Standard ist nicht Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 66855
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-158231
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Normansicht ČSN EN 60749-3 (358799)
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