Die Norm ČSN EN 60749-37 1.9.2008 Ansicht

ČSN EN 60749-37 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Falltest Platine mit der Beschleunigungsmesser. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).



NORM herausgegeben am 1.9.2008


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis13.80 ohne MWS
13.80

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-37
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 81899
Ausgabedatum normen: 1.9.2008
SKU: NS-158242
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-37 (358799):

Část 37 souboru norem IEC 60749 popisuje zkušební metodu pro hodnocení a porovnání chování povrchově montovaných elektronických součástek pro ruční elektronické výrobky při působení zrychleného zkušebního prostředí, kdy nadměrný ohyb desky s plošnými spoji vyvolá poruchu výrobku. Popsaná metoda používá měřič zrychlení pro sledování mechanického úderu, který odpovídá namáhání součástky na osazené desce Zkouška je vhodná pro součástky s vývody uspořádanými do matice, nebo pouze po obvodu.

Zugehörige Änderungen zu dieser Norm:

ČSN EN 60749-37:2008/Z1 (358799) Änderung

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 37: Zkouška pádem osazené desky metodou používající měřič zrychlení.

Änderung herausgegeben am 1.6.2023

Ausgewählte Ausführung:
Tschechisch -
Gedruckt (1.10 EUR)


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1.10


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