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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, hoch beschleunigten Stresstest (HAST). (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-4
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 66853
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-158246
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Letzte Aktualisierung: 2024-11-22 (Zahl der Positionen: 2 206 568)
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