Die Norm ČSN EN 62047-3 1.5.2007 Ansicht

ČSN EN 62047-3 (358775)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Mikroelektrogeräte - Teil 3: Dünnschicht-Standardteststücke für den Zugversuch. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).



NORM herausgegeben am 1.5.2007


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis13.30 ohne MWS
13.30

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 62047-3
Zeichen: 358775
Katalog-Nummer: 78595
Ausgabedatum normen: 1.5.2007
SKU: NS-161585
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

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Die Annotation des Normtextes ČSN EN 62047-3 (358775):

Tato mezinárodní norma specifikuje normalizovaný zkušební kus, který se používá pro zajišťování vhodnosti a přesnosti systému zkoušení v tahu pro tenkovrstvové materiály o délce a šířce pod 1 mm a tloušťce pod 10 µm, které jsou hlavním materiálem struktury mikroelektromechanických systémů (MEMS) mikrostrojů a podobných součástek.

Tato mezinárodní norma vychází z koncepce, aby systém zkoušek v tahu mohl zaručovat vhodnost a přesnost při měření pevnosti v tahu normalizovaných zkušebních kusů, jejichž pevnost v tahu je stanovena předem, v předpokládaném rozsahu. Norma rovněž stanoví zkušební kusy pro minimalizaci odchylek charakteristik mezi zkoušenými kusy.

Přejímaná EN 62047-3 představuje 3 strany anglického textu a 15 stran anglického a francouzského textu normy IEC

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