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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mikroelektrogeräte - Teil 6: Prüfverfahren axiale Ermüdung von Dünnschichtmaterialien (Standard zur unmittelbaren Verwendung als CSN).
NORM herausgegeben am 1.11.2010
Bezeichnung normen: ČSN EN 62047-6
Zeichen: 358775
Katalog-Nummer: 86158
Ausgabedatum normen: 1.11.2010
SKU: NS-161589
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Semiconductor devices in generalElectromechanical components in general
1.11.2003
UNGÜLTIG
1.12.2003
UNGÜLTIG
1.8.2003
1.12.2003
UNGÜLTIG
1.5.2010
1.12.2009
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Letzte Aktualisierung: 2024-11-22 (Zahl der Positionen: 2 206 568)
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