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ČSN EN 62374-1 (358768)
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung zeitabhängigen dielektrischen Durchschlag der intermetallischen Schicht. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.7.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 62374-1
Zeichen: 358768
Katalog-Nummer: 88688
Ausgabedatum normen: 1.7.2011
SKU: NS-162086
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ČSN EN 62374-1 (358768):
Tato norma popisuje zkušební metodu, zkušební strukturu a metodu pro odhad životnosti pro zkoušku časově závislého dielektrického průrazu (TDDB) pro intermetalické vrstvy vytvořené pro polovodičové součástky
Normansicht ČSN EN 62374-1 (358768)
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