Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ČSN EN 62417 (358769)
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Tests für Ionen bewegen Feldeffekttransistoren (MOSFET) (Standard zur unmittelbaren Verwendung als CSN).
NORM herausgegeben am 1.12.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 62417
Zeichen: 358769
Katalog-Nummer: 87218
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
SKU: NS-162133
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Normansicht ČSN EN 62417 (358769)
Ähnliche Normen:
UNGÜLTIG
1.7.1998
UNGÜLTIG
1.12.1997
1.3.2007
1.12.2010
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
