ČSN EN IEC 60749-10-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly

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NORM herausgegeben am 1.1.2023


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis13.50 ohne MWS
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-10-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 515546
Ausgabedatum normen: 1.1.2023
SKU: NS-1097936
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

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Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-10-ed.2 (358799):

Tato norma je určena k hodnocení součástek ve volném stavu a namontovaných na deskách s plošnými spoji pro použití v elektrických zařízeních. Metoda slouží k určení kompatibility součástek a podsestav, aby odolaly středně silným rázům. Použití podsestav je prostředkem ke zkoušení součástek v podmínkách použití tak, jak jsou osazeny na deskách s plošnými spoji. Mechanické rázy způsobené náhle působícími silami nebo náhlými změnami pohybu, které jsou způsobené manipulací, přepravou nebo provozem v terénu mohou narušit provozní vlastnosti, zejména, pokud se rázové pulsy opakují. Jedná se o destruktivní zkoušku určenou pro kvalifikaci součástek

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