Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.1.2023
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-10-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 515546
Ausgabedatum normen: 1.1.2023
SKU: NS-1097936
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma je určena k hodnocení součástek ve volném stavu a namontovaných na deskách s plošnými spoji pro použití v elektrických zařízeních. Metoda slouží k určení kompatibility součástek a podsestav, aby odolaly středně silným rázům. Použití podsestav je prostředkem ke zkoušení součástek v podmínkách použití tak, jak jsou osazeny na deskách s plošnými spoji. Mechanické rázy způsobené náhle působícími silami nebo náhlými změnami pohybu, které jsou způsobené manipulací, přepravou nebo provozem v terénu mohou narušit provozní vlastnosti, zejména, pokud se rázové pulsy opakují. Jedná se o destruktivní zkoušku určenou pro kvalifikaci součástek
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2024-12-21 (Zahl der Positionen: 2 216 840)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.