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ČSN EN IEC 63287-2 (358777)
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
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NORM herausgegeben am 1.12.2023
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 63287-2
Zeichen: 358777
Katalog-Nummer: 517541
Ausgabedatum normen: 1.12.2023
SKU: NS-1159526
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 63287-2 (358777):
Tato norma poskytuje směrnice pro sestavení kvalifikačních plánů spolehlivosti s využitím konceptu profilu nasazení na základě environmentálních podmínek a navrhovaného použití produktu. Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikace
Normansicht ČSN EN IEC 63287-2 (358777)
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