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Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell.
Automatische name übersetzung:
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Wasserverunreinigung in Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Argon und Helium mittels einer Diphosphorpentoxidzelle.
NORM herausgegeben am 1.8.1987
Bezeichnung normen: DIN 50450-1:1987-08
Ausgabedatum normen: 1.8.1987
SKU: NS-203846
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Wasserverunreinigung in Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Argon und Helium mittels einer Diphosphorpentoxidzelle.
1.9.1993
UNGÜLTIG
1.4.2003
UNGÜLTIG
1.3.1997
UNGÜLTIG
1.9.1983
UNGÜLTIG
1.9.1983
1.12.1985
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-13 (Zahl der Positionen: 2 429 660)
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