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Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N2, Ar, He, Ne and H2 by using a galvanic cell.
Automatische name übersetzung:
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Meßzelle.
NORM herausgegeben am 1.3.1991
Bezeichnung normen: DIN 50450-2:1991-03
Ausgabedatum normen: 1.3.1991
SKU: NS-203847
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Meßzelle.
UNGÜLTIG
1.3.1991
1.9.1993
UNGÜLTIG
1.4.2003
UNGÜLTIG
1.3.1997
UNGÜLTIG
1.9.1983
UNGÜLTIG
1.9.1983
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-13 (Zahl der Positionen: 2 429 660)
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