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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren.
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-11:2003-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-237793
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren.
UNGÜLTIG
1.4.2003
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1.4.2003
1.7.2004
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1.6.2011
1.9.2003
UNGÜLTIG
1.9.2003
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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