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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel.
NORM herausgegeben am 1.4.2004
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-25:2004-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2004
SKU: NS-237814
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel.
UNGÜLTIG
1.5.2014
1.2.2007
1.3.2011
1.3.2012
1.7.2010
1.2.2012
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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