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DIN EN 60749-31:2003-12
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic encapsulated devices (internally induced).
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 31: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Selbstentzündung).
NORM herausgegeben am 1.12.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-31:2003-12
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
SKU: NS-237823
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Kategorie - ähnliche Normen:
Ignitability and burning behaviour of materials and productsSemiconductor devices in general
Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-31:2003-12 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 31: Entflammbarkeit von Bauelementen in Kunststoffgehäusen (Selbstentzündung).
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