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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung.
NORM herausgegeben am 1.9.2004
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-33:2004-09
Ausgabedatum normen: 1.9.2004
SKU: NS-237826
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung.
1.1.2012
UNGÜLTIG
1.4.2003
UNGÜLTIG
1.12.2011
1.12.2003
1.1.2011
1.5.2011
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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