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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing.
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Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung.
NORM herausgegeben am 1.2.2007
Bezeichnung normen: DIN EN 62047-3:2007-02
Ausgabedatum normen: 1.2.2007
SKU: NS-239569
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Semiconductor devices in generalElectromechanical components in general
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung.
1.12.2003
1.7.2011
1.9.2004
1.4.2004
1.4.2013
UNGÜLTIG
1.7.2012
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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