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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films.
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Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten.
NORM herausgegeben am 1.12.2011
Bezeichnung normen: DIN EN 62047-8:2011-12
Ausgabedatum normen: 1.12.2011
SKU: NS-239574
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Semiconductor devices in generalElectromechanical components in general
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten.
1.9.2003
UNGÜLTIG
1.9.2003
UNGÜLTIG
1.9.2003
1.1.2011
1.4.2003
UNGÜLTIG
1.4.2010
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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