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Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.
NORM herausgegeben am 1.6.2011
Bezeichnung normen: DIN EN 62374-1:2011-06
Ausgabedatum normen: 1.6.2011
SKU: NS-239813
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.
1.10.2012
UNGÜLTIG
1.11.2012
UNGÜLTIG
1.11.2012
UNGÜLTIG
1.6.2011
1.4.2014
1.2.2007
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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