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Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
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Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.
NORM herausgegeben am 1.2.2008
Bezeichnung normen: DIN EN 62374:2008-02
Ausgabedatum normen: 1.2.2008
SKU: NS-239814
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.
1.4.2003
UNGÜLTIG
1.4.2010
1.10.2009
1.1.2012
1.12.2003
1.7.2011
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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