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DIN EN 62417:2010-12
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).
NORM herausgegeben am 1.12.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 62417:2010-12
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
SKU: NS-239835
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
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Die Annotation des Normtextes DIN EN 62417:2010-12 :
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).
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