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Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
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Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Leitfaden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
NORM herausgegeben am 30.12.2011
Bezeichnung normen: GB/T 27788-2011
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.12.2011
SKU: NS-363491
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
Letzte Aktualisierung: 2024-07-22 (Zahl der Positionen: 2 338 152)
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