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Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
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NORM herausgegeben am 18.4.1995
Bezeichnung normen: GB/T 6624-1995
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 18.4.1995
SKU: NS-888250
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-16 (Zahl der Positionen: 2 433 731)
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