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Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
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Semiconductor Tunneldioden. Verfahren zur Messung negativer Konduktanz der intrinsischen Diode
NORM herausgegeben am 1.7.1976
Bezeichnung normen: GOST 18986.12-74
Ausgabedatum normen: 1.7.1976
SKU: NS-383374
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Russische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GOST
1.1.1976
1.1.1975
1.7.1976
1.7.1985
1.7.1976
1.7.1986
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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