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State system for ensuring the uniformity of measurements. Reflectometers of the extreme ultraviolet radiation for measurements of the characteristics of multilayer nanostructures in the wavelength range 10 to 30 nm. Procedure of measurements
Automatische name übersetzung:
Zustand System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Reflektometer der extreme Ultraviolettstrahlung für die Messung der Eigenschaften des Mehrschichtnanostrukturen in dem Wellenlängenbereich von 10 bis 30 nm. Vorgehensweise von Messungen
NORM herausgegeben am 1.1.2012
Bezeichnung normen: GOST R 8.716-2010
Ausgabedatum normen: 1.1.2012
SKU: NS-404509
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Russische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GOST
1.5.2004
1.1.2005
1.7.2002
UNGÜLTIG
1.11.2005
1.1.2007
1.1.2007
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Letzte Aktualisierung: 2025-01-05 (Zahl der Positionen: 2 218 327)
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