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Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
Automatische name übersetzung:
Messung von Schwingquarz-Parametern nach dem Null Phasenverfahren in einem Pi-Netzwerk. Teil 2: Phase-Offset-Methode für die Messung der Bewegungskapazität von Schwingquarzen
NORM herausgegeben am 1.1.1980
Bezeichnung normen: IEC 60444-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 1.1.1980
SKU: NS-410248
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. Decrit une methode de mesure de la capacite dynamique des quartz dans une gamme de frequences de 1 MHz a 125 MHz avec une erreur totale de mesure de lordre de 5%.
25.7.1996
25.11.2010
9.11.2000
10.8.2000
15.8.1986
7.10.2010
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-11 (Zahl der Positionen: 2 346 290)
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