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Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Integrierte Schaltungen - Teil 4-3: Schnittstellen-ICs - Dynamische Kriterien für die Analog-Digital-Wandler (ADC)
NORM herausgegeben am 29.8.2006
Bezeichnung normen: IEC 60748-4-3-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 29.8.2006
SKU: NS-411357
Zahl der Seiten: 36
Gewicht ca.: 108 g (0.24 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated terminology and characteristics
21.12.1994
22.12.1997
1.3.1994
30.6.1988
10.4.1997
10.4.1997
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-27 (Zahl der Positionen: 2 350 600)
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