Die Norm IEC 62396-1-ed.2.0 19.1.2016 Ansicht

IEC 62396-1-ed.2.0

Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 1: Accommodation of atmospheric radiation effects via single event effects within avionics electronic equipment

Automatische name übersetzung:

Prozessmanagement für Avionik - Atmosphärische Strahlungseffekte - Teil 1: Die Unterbringung der atmosphärischen Strahlungseffekten über Einzelereignis Effekte innerhalb der Avionik elektronische Geräte



NORM herausgegeben am 19.1.2016


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis467.00 ohne MWS
467.00

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 62396-1-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 19.1.2016
SKU: NS-626427
Zahl der Seiten: 104
Gewicht ca.: 343 g (0.76 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Die Annotation des Normtextes IEC 62396-1-ed.2.0 :

IEC 62396-1:2016(E) is available as IEC 62396-1:2016 RLV which contains the International Standard and its Redline version, showing all changes of the technical content compared to the previous edition. IEC 62396-1:2016(E) provides guidance on atmospheric radiation effects on avionics electronics used in aircraft operating at altitudes up to 60 000 ft (18,3 km). It defines the radiation environment, the effects of that environment on electronics and provides design considerations for the accommodation of those effects within avionics systems. This International Standard helps aerospace equipment manufacturers and designers to standardise their approach to single event effects in avionics by providing guidance, leading to a standard methodology. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: - incorporation of references to some new papers and issues which have appeared since 2011; - addition of solar flares and extreme space weather reference to a proposed future Part 6; - addition of reference to a proposed new Part 7 on incorporating atmospheric radiation effects analysis into the system design process; - addition of a reference to a proposed future Part 8 on other particles including protons, pions and muons.

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