Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
Automatische name übersetzung:
Standard Test Interface Language (STIL) für Digital Testvektor-Daten
NORM herausgegeben am 7.11.2007
Bezeichnung normen: IEC 62525-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 7.11.2007
SKU: NS-414728
Zahl der Seiten: 143
Gewicht ca.: 460 g (1.01 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Industrial automation systems in generalElectrical and electronic testing
Defines a test description language that: Facilitates the transfer of large volumes of digital test vector data from CAE environments to automated test equipment ATE environments; Specifies pattern, format, and timing information sufficient to define the application of digital test vectors to a device under test (DUT); Supports the volume of test vector data generated from structured tests such as scan/automatic test pattern generation (ATPG), integral test techniques such as built-in self test (BIST), and functional test specifications for IC designs and their assemblies, in a format optimized for application in ATE environments.
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2024-09-27 (Zahl der Positionen: 2 350 600)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.